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詳細說明：
HAST老化試驗箱廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、
光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。HAST老化試驗箱的目的是提高環境應力
(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命
試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用
壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
HAST老化試驗箱箱體結構及安全裝置：
1、HAST老化試驗箱圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測物品，可預防試驗中有滴
水結露現象，可避免蒸汽過熱直接沖擊操作人員。
2、安全程序自動停機，自動泄壓，自動破真空，自動給水，每次加水可持續運行400小時。
3、采用溫度與壓力安全檢知及門禁自動鎖定控制系統，圓型測試槽與安全門環扣結構設計，
當內箱壓力越大時，反壓會迫使安全門與箱體更加緊密之結合，故內箱壓力必須小于正
常壓力時，測試門才能被打開，因此而保證了操作人員的安全。
4、具備異常故障訊號警示功能
HAST老化試驗箱產品應用范圍：
用于調查分析電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布
函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。如：國防、航天、汽車部
件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照
明制品等產品作加速壽命試驗測試其密封性能。
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